產品介紹 (半導體檢測機)

               

                                                          

 

 

 

 

 

 

 

 

IR 顯微鏡

 

檢測功能:利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生

適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。

光學設計IR光源採用2種波長1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm

檢測速度:0.1秒

IR CCD有2種可選擇,1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm

檢測速度:0.1秒

 

 

 

 

 

 

 

   友豐貿易有限公司  新北市板橋區長安街331巷21號2F   TEL/(02)2961-1268   FAX/(02)2963-5787    E-mail:[email protected]   電子地圖

 

手機版     電腦版